Nanostructuren zoals dunne films zijn cruciaal voor veel van de elektronische apparaten die we dagelijks gebruiken. Deze structuren zijn slechts fracties van een nanometer tot enkele micrometers dik en om ze betrouwbaar te karakteriseren is analyse met röntgenstraling nodig. "Röntgenstralingstechnieken zijn niet-destructief, daarom bieden ze een enorme verbogen potentie voor snelle en toegankelijke geometrische karakterisering van verborgen atomaire profielen voor dunne films en vlakke nanostructuren", zegt Igor Makhotkin, universitair hoofddocent aan de UT.
Experimenteel en theoretisch werk
Onderzoek en ontwikkeling van nieuwe instrumenten, methoden en gegevensanalyse met röntgen is van vitaal belang voor de voortdurende verbetering van halfgeleiders en andere geavanceerde materialen.De huidige samenwerking omvat zowel experimenteel als theoretisch werk aan de fundamenten van nieuwe röntgenmetrologie en röntgengegevensanalyses. Het onderzoek naar gegevensanalyse wordt mede begeleid door universitair hoofddocent wiskund Matthias Schlottbom van de UT-groep Mathematics of Computational Science (MACS). Daardoor is dit echt interdisciplinair en faculteitsoverschrijdend onderzoeksproject is. Hij zegt: "Onze combinatie van hardware, natuurkundige modellering en algoritmen voor gegevensanalyse met elegante softwareontwikkelingen is essentieel voor het mogelijk maken van vooruitgang in röntgenmetrologie voor een breed publiek van niet-deskundige gebruikers uit de academische wereld en de industrie."
Centraal in de samenwerking staat een onderzoeksprogramma dat zich richt op het verleggen van de grenzen voor röntgenkarakterisering van dunne films door een fundamentele studie van het röntgenverstrooiingsproces. Het project richt zich op zowel computationele als experimentele aspecten van hybride (structurele en elementaire) karakterisering van dunne films en hun interfaces.
"De Universiteit Twente en Malvern Panalytical blijven samenwerken als partners in de ontdekking van nieuwe röntgenkarakterisatietechnologieën. De samenwerking zal zeer geavanceerde technieken opleveren om de toekomst van geavanceerde materiaalkunde vorm te geven en te helpen bij het creëren van een schonere, gezondere en productievere wereld", voegde Eugène Reuvekamp, Corporate Scientist bij Malvern Panalytical, toe.
Het programma wordt gefinancierd door de Universiteit Twente, de Nederlandse overheid (via het TKI-programma High Tech Systemen en Materialen) en Malvern Panalytical. Igor Makhotkin is universitair hoofddocent in de onderzoeksgroep X-ray Science & Technology (XST), ingebed in de industriële focusgroep XUV Optics, onder voorzitterschap van Marcelo Ackermann. Makhotkins werk is gericht op het oplossen van fundamentele uitdagingen in nanostructuurkarakterisering met röntgen-materie-interactie. Dr. Matthias Schlottbom is universitair hoofddocent in de groep Mathematics of Computational Science (MACS) in het departement Toegepaste Wiskunde. Het onderzoeksprogramma bij Malvern Panalytical staat onder leiding van Dr. Eugène Reuvekamp.
Bacheloropleidingen
Masteropleidingen
Hbo-doorstroom
Faculteiten & instituten
Student Services Contact Centre
(Interne) Service Portal
Contact
People Pages (telefoongids)
Route & Plattegrond
Werken bij de UT/Vacatures
Nieuwsoverzicht UT
Agenda UT
Samenwerken met de UT Bedrijfsruimte op de campus PhD/PDEng in het bedrijfsleven Ondersteuning door Novel-T DesignLab